2号機X-6ペネ調査装置付着物-3(2PEN2103)TEM

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更新履歴 

更新履歴
No 日付 分類 内容 備考 記載者
1 2022/05/16 新規 2PEN2103 TEM分析結果の登録 IRID報告書(付録-4)の内容を転記。各領域の分析結果については、分析機関での精査を終えていない生データの段階であるため、wordファイルの原本へのリンクを作成するに留めた。 原稿作成:鈴木(NFD)
wiki転記:池内(JAEA)
2 2022/08/25 改訂 領域12及び領域14の図(HAADF像、EDS元素マッピング、EDS線分析、EDS点分析、電子線回折)を分析機関での精査後のバージョンに差し替えた(リンク先wordファイルを更新)。 原稿作成:鈴木(NFD)
wiki転記:池内(JAEA)
3 2022/10/06 改訂 領域06及び領域05の図(HAADF像、EDS元素マッピング、EDS線分析、EDS点分析、電子線回折)を分析機関での精査後のバージョンに差し替えた(リンク先wordファイルを更新)。 原稿作成:鈴木(NFD)
wiki転記:池内(JAEA)
4 2023/3/23 改訂 本文(仮)の追記 図面精査:鈴木(NFD)
wiki原稿(仮)作成:池内(JAEA)
5 2023/03/29 承認 分析データへの掲載承認 池内(JAEA)

FIBによる試料調整

 SEM/EDX分析により設定した着目領域のうち、TEM観察対象として2PEN2103領域12、2PEN2103領域14、2PEN2103領域06、2PEN2103領域05、及び2WEL2101B領域01の5か所を選定し、FIBにて採取するとともに、TEM観察可能な厚さに薄膜化加工した。

TEMによる観察

 2PEN2103から、領域12、領域14、領域06、及び領域05の4つのTEM観察用試料の観察を行った。TEMに装備された観測モードであるSTEM-EDXにより各領域に含まれた微粒子断面のEDX元素マッピング、線分析データ、点分析半定量データを取得し、組成分布を評価した。また、TEMにより電子線回折像を取得し、微粒子及びその近傍の各位置での結晶構造を同定し、EDXデータも参考に微粒子構成物質の化学形態を評価した。

各領域のTEM観察結果

 領域12 領域14 領域06 領域05