2号機TIP配管内閉塞物(NFD) SEM

試料採取

図１にFE-SEM観察台への試料採取の状況写真を示す。

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  図1　FE-SEM観察台へのサンプル採取

SEM像と詳細観察位置

図2にFE-SEM 像と詳細観察箇所の位置を示す。

• 2TIP1705-SEM--02.jpg

  図2　FE-SEM像と各詳細観察箇所の位置

詳細観察

詳細観察像

図3に詳細観察①～③の範囲及び拡大FE-SEM像、図４に詳細観察④、⑤の範囲及び拡大FE-SEM像、図5に詳細観察⑥の範囲及び拡大FE-SEM像を示す。

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  図3　詳細観察①～③の範囲及び拡大FE-SEM像

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  図4　詳細観察④、⑤の範囲及び拡大FE-SEM像

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  図5　詳細観察⑥の範囲及び拡大FE-SEM像

詳細観察結果

図6に詳細観察①のFE-SEM/EDS観察結果、図7に詳細観察②のFE-SEM/EDS観察結果、図8に詳細観察⑤のFE-SEM/EDS観察結果、図9に詳細観察⑥のFE-SEM/EDS観察結果を示す。 EDS マッピングは，各位置から得られた各元素のEDS 信号のカウント数の大小を色の濃さで示したものである。しかし，そのカウント数の大小は，基本的にEDS 信号を発した試料表面の元素の量を示しているが，周囲の元素種や試料の形状・密度に影響を受ける。従って，EDS マッピングの色の濃さは，原則的に電子線照射位置の当該元素の量を示しているが，必ずしも各元素濃度の定量比に対応しているわけではない。また，発生するEDS 信号のカウント数は元素の種類によって異なるため，各元素のマッピング間で色の濃さを比較することはできない。さらに，各元素からのEDS 信号には，他の元素のEDS 信号が重なっているケースがあり，明るい部分に必ずしも当該元素が存在するわけではない。電子数の多い対象元素以外の元素の存在する位置では相対的にそのEDS 信号（バックグラウンド）が大きくなる傾向がある。これらの影響を受けていることを考慮した上で同定した元素をキャプションに示した。

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  図6　FE-SEM/EDS観察結果（詳細観察①）

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  図7　FE-SEM/EDS観察結果（詳細観察②）

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  図8　FE-SEM/EDS観察結果（詳細観察⑤）

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  図9　FE-SEM/EDS観察結果（詳細観察⑥）

公開報告書へのリンク先を表示した。

• SEM/EDS観察結果（図）
  • 付図 2.8 2uTIPB サンプルからFE-SEM 観察台へのサンプル採取
  • 付図 2.9 2uTIPB のFE-SEM 像と詳細観察箇所
  • 付図 2.10 2uTIPB の詳細観察①～③の範囲
  • 付図 2.11 2uTIPB の詳細観察④及び⑤の範囲
  • 付図 2.12 2uTIPB の詳細観察⑥の範囲
  • 付図 2.13 2uTIPB のFE-SEM/EDS 観察（詳細観察①）
  • 付図 2.14 2uTIPB のFE-SEM/EDS 観察（詳細観察②）
  • 付図 2.15 2uTIPB のFE-SEM/EDS 観察（詳細観察⑤）
  • 付図 2.16 2uTIPB のFE-SEM/EDS 観察（詳細観察⑥）